Предмет: Нанометрологија и стандардизација
Код: 3ФЕИТ08018
Број на ЕКТС кредити: 6 ЕКТС
Неделен фонд на часови:3+0+0+3
Наставник: Проф. д-р Христина Спасевска
Цели на предметната програма (компетенции): Здобивање знаења од областа на метрологијата на нанотехнологиите, карактеризацијата на наноструктутите и стандардизцијата со цел индустриско добивање на нанопроизводи.
Содржина на предметната програма: Вовед во метрологијата на микро и нанотехнологиите.Терминологија и номенклатура во нанотехнологиите. Метролошки техники за мерење на нано вредности и ограничувачки фактори. Мерење на еднодимензионални, дведимензионални и тридимензионални структури. Неодреденост при мерњее на нано димензии. Метролошки принципи за индустриско добивање на нано производи. Стандарди во нанотехнологиите, основни области на стандардизацијата во нанотехнологиите.
Литература:
| Задолжителна литература | ||||
| Бр. | Автор | Наслов | Издавач | Година |
| 1 | Richard Leach | Fundamental Principles of Engineering Nanometrology | William Andrew | 2009 |
| 2 | Vladimir Murashov, John Howard | Nanotechnology Standards | Springer | 2011 |
| 3 | Günter Wilkening, Ludger Koenders | Nanoscale Calibration Standards and Methods | John Wiley & Sons | 2006 |
| Дополнителна литература | ||||
| Бр. | Автор | Наслов | Издавач | Година |
| 1 | David J. Whitehouse | Handbook of Surface and Nanometrology | Taylor & Francis | 2010 |
| 2 | Wei-Hong Zhong | Nanoscience and Nanomaterials: Synthesis, Manufacturing and Industry Impacts | DEStech Publications, Inc | 2012 |
