Предмет: Карактеризација на микро и нано-елементи
Код: 3ФЕИТ08007
Број на ЕКТС кредити: 6 ЕКТС
Неделен фонд на часови:3+0+0+3
Наставник: Вон. проф. д-р Лихнида Стојановска-Георгиевска
Цели на предметната програма (компетенции): Целта на овој предмет е да овозможи фундаментално разбирање на различни аспекти на карактеризацијата на микро, но и на молекуларно односно нано ниво, што е од особена важност за современите инженери, кои работат во областа на мирко и нанотехнологиите. Овој предмет овозможува суштинско запознавање со широк спектар на современи техники на мерење, кои се применуваат при анализа на структурата и својствата на микро и нано материјалите и уредите.
Содржина на предметната програма: Вовед: видови техники за карактеризација. Структурна карактеризација – анализа на структурата, хемискиот состав и присуството на дефекти во испитуваните микро и нано структури, која се состои од: микроскопски техники (SEM, TEM, AFM), дифракција на рендгенски зраци XRD, спектроскопски техники (рендгенска фотоелектронска спектроскопија XPS, Раманова спектроскопија, инфрацрвена спектроскопија со Фуриева трансформација FTIR), масена и оптичка спектроскопија. Електрична карактеризација – овозможува анализа на широк спектар на особини на микро и нано уредите: густина и распределба на носителите на полнеж, карактеристични вредности на отпорот, напон на вклучување и напон на рамни зони, присуство на оксидни и меѓуповршински полнежи, доверливост на уредите. Видови електрични мерења: импедансна анализа, струјно-напонски мерења, капацитетни мерења, високо-фреквентни и квазистатички мерења, како и мерења на температурната зависност на електричните параметри.
Литература:
Задолжителна литература | ||||
Бр. | Автор | Наслов | Издавач | Година |
1 | 3. David Brandon and Wayne D. Kaplan | Microstructural Characterization of Materials | Wiley | 2008 |
2 | Helmut Günzler and Alex Williams | Handbook of Analytical Techniques | Wiley | 2002 |
3 | 1. C. Richard Brundle, Charles A. Evans Jr., Shaun Wilson | Encyclopedia of Materials Characterization | Butterworth-Heinemann Publishers | 1992 |