Карактеризација на микро и нано-елементи

Објавено: февруари 28, 2019

Предмет: Карактеризација на микро и нано-елементи

Код: 3ФЕИТ08007

Број на ЕКТС кредити: 6 ЕКТС

Неделен фонд на часови:3+0+0+3

Наставник: Вон. проф. д-р Лихнида Стојановска-Георгиевска

Цели на предметната програма (компетенции): Целта на овој предмет е да овозможи фундаментално разбирање на различни аспекти на карактеризацијата на микро, но и на молекуларно односно нано ниво, што е од особена важност за современите инженери, кои работат во областа на мирко и нанотехнологиите. Овој предмет овозможува суштинско запознавање со широк спектар на современи техники на мерење, кои се применуваат при анализа на структурата и својствата на микро и нано материјалите и уредите.

Содржина на предметната програма: Вовед: видови техники за карактеризација. Структурна карактеризација – анализа на структурата, хемискиот состав и присуството на дефекти во испитуваните микро и нано структури, која се состои од:  микроскопски техники (SEM, TEM, AFM), дифракција на рендгенски зраци XRD, спектроскопски техники (рендгенска фотоелектронска спектроскопија XPS,  Раманова спектроскопија, инфрацрвена спектроскопија со Фуриева трансформација FTIR), масена и оптичка спектроскопија. Електрична карактеризација – овозможува анализа на широк спектар на особини на микро и нано уредите: густина и распределба на носителите на полнеж, карактеристични вредности на отпорот, напон на вклучување и напон на рамни зони, присуство на оксидни и меѓуповршински полнежи, доверливост на уредите. Видови електрични мерења: импедансна анализа, струјно-напонски мерења, капацитетни мерења, високо-фреквентни и квазистатички мерења, како и мерења на температурната зависност на електричните параметри.

Литература:

Задолжителна литература
Бр.АвторНасловИздавачГодина
13. David Brandon and Wayne D. KaplanMicrostructural Characterization of MaterialsWiley2008
2Helmut Günzler and Alex WilliamsHandbook of Analytical TechniquesWiley2002
31. C. Richard Brundle, Charles A. Evans Jr., Shaun WilsonEncyclopedia of Materials CharacterizationButterworth-Heinemann Publishers1992