| 1. | Наслов на наставниот предмет | Од микроелектроника до наноелектроника | |||||||||||
| 2. | Код | 4ФЕИТ05020 | |||||||||||
| 3. | Студиска програма | 9-ВМС, 16-МНТ | |||||||||||
| 4. | Организатор на студиската програма
(единица, односно институт, катедра, оддел) |
Факултет за електротехника и информациски технологии | |||||||||||
| 5. | Степен (прв, втор, трет циклус) | Втор циклус студии | |||||||||||
| 6. | Академска година/семестар | I/1 | 7. | Број на ЕКТС кредити | 6.00 | ||||||||
| 8. | Наставник | Д-р Катерина Ралева | |||||||||||
| 9. | Предуслов за запишување на предметот | ||||||||||||
| 10. | Цели на предметната програма (компетенции):
Целта на предметот е студентот да се стекне со основни знаења од микроелектронските и наноелектронските технологии, да ги разбере ограничувањата во електронскиот дизајн со скалирање на CMOS технологијата и новите типови на транзисторски архитектури. По завршување на курсот, студентот ќе биде оспособен за примена на новите нанометарски транзистори и мемории во идниот дизајн на електронските кола и системи. |
||||||||||||
| 11. | Содржина на програмата:
Микроелектронски технологии (подготовка на материјалот, литографија, дифузија, нагризување, јонска имплантација, интерконекции, пакување). MOS – кондензатор. MOSFET со долг канал и MOSFET со краток канал. Скалирање на MOSFET транзисторот. Феномени карактеристични за длабоко-подмикрометарските електронски елементи. Карактеристики на CMOS технологијата. State-of-the-art во Si-CMOS технологијата во контекст на Муровиот закон. Граници на скалирање на CMOS технологиите (bulk-CMOS, SOI-CMOS). Нови типови архитектури на електронските елементи (Fully Depleted SOI MOSFET, Double-gate MOS transistor, FinFET, gate-all-around transistor – GAA). Полупроводнички мемории (SRAM, DRAM и флеш). Интеграција на технологии. BiCMOS – процес, интегрирана оптоелектроника. Воведни концепти за нанотехнологија. Методи на фабрикација на наноматеријалите и наноструктурите (top-down, bottom-up, self – assembly). Наноелектроника: Single Electron Transistor (SET), Nanowire Transistors, Carbon Nanotube Transistor (CNT), ReRAM, мемории со неколку електрони (few electron memories). |
||||||||||||
| 12. | Методи на учење:
Комбиниран начин на учење: предавања подржани со презентации и визуелизација на концептите, проектни задачи. |
||||||||||||
| 13. | Вкупен расположив фонд на време | 180 | |||||||||||
| 14. | Распределба на расположивото време | 3 + 3 | |||||||||||
| 15. | Форми на наставните активности | 15.1 | Предавања – теоретска настава | 45 часови | |||||||||
| 15.2 | Вежби (лабораториски, аудиториски), семинари, тимска работа | 45 часови | |||||||||||
| 16. | Други форми на активности | 16.1 | Проектни задачи | 30 часови | |||||||||
| 16.2 | Самостојни задачи | 30 часови | |||||||||||
| 16.3 | Домашно учење | 30 часови | |||||||||||
| 17. | Начин на оценување | ||||||||||||
| 17.1 | Тестови | 40 бодови | |||||||||||
| 17.2 | Семинарска работа/проект (презентација: писмена и усна) | 50 бодови | |||||||||||
| 17.3. | Активност и учење | 10 бодови | |||||||||||
| 17.4. | Завршен испит | 0 бодови | |||||||||||
| 18. | Критериуми за оценување (бодови/оценка) | до 50 бода | 5 (пет) (F) | ||||||||||
| од 51 до 60 бода | 6 (шест) (E) | ||||||||||||
| од 61 до 70 бода | 7 (седум) (D) | ||||||||||||
| од 71 до 80 бода | 8 (осум) (C) | ||||||||||||
| од 81 до 90 бода | 9 (девет) (B) | ||||||||||||
| од 91 до 100 бода | 10 (десет) (A) | ||||||||||||
| 19. | Услов за потпис и полагање на завршен испит | изработени домашни и проектни задачи | |||||||||||
| 20. | Начин на полагање на испитот | писменo – тестови и усна одбрана на проект | |||||||||||
| 21. | Јазик на кој се изведува наставата | Македонски и Англиски | |||||||||||
| 22. | Метод на следење на квалитетот на наставата | интерна евалуација и анкети | |||||||||||
| 23. | Литература | ||||||||||||
| 23.1. | Задолжителна литература | ||||||||||||
| Ред.
број |
Автор | Наслов | Издавач | Година | |||||||||
| 1. | Yuan Taur and Tak H. Ning | Fundamentals of Modern VLSI Devices, 2nd edition | Cambridge University Press | 2013 | |||||||||
| 2. | Neil H.E. Weste and David Harris | CMOS VLSI Design | Pearson Education, Inc. | 2005 | |||||||||
| 3. | edited by Shunri Oda and David K. Ferry | Nanoscale Silicon Devices | CRC Press | 2016 | |||||||||
| 23.2. | Дополнителна литература | ||||||||||||
| Ред.
број |
Автор | Наслов | Издавач | Година | |||||||||
| 1. | R.F. Pierret | Field Effect Devices (Volume 4 on Modular Series on Solid State Devices) | Prentice Hall | 2001 | |||||||||
| 2. | Konstantin Likarev | Single Electron Devices and Their Applications (a review paper) | Proc. IEEE, vol. 87, pp. 606-632 | 1999 | |||||||||

